Spectrometru XPS

K-ALPHA (Thermo Scientific)

Utilizare:

analiza suprafetei chimice a compusilor anorganici, semiconductori, materiale polimerice, catalizatori, sticlã, ceramicã, vopsea, hârtie, lemn, cernealã, oase, dinti, implanturi medicale, bio-materiale, uleiuri viscoase, adezivi, schimbãtori de ioni.

Caracteristici generale:

Camera de analizã: din aliaj Ni-Fe pentru ecranare magneticã optimã
Presiunea în camera de analizã dupã coacere si rãcire minim 5x10^-9 mbar pentru analiza de suprafatã în vid ultraînaintat
Camera de intrare rapidã (FEAL) din aluminium, vidatã folosind o pompã turbomolecularã "dry scroll"
Fascicolul de raze X sub formã de spot între 30 Ám si 400 Ám. Puterea spotului este de maxim 75 de watti, pentru a minimiza distrugerea probei de cãtre razele X
Tun ionic de înaltã performantã, cu dimensiunea spotului mai micã de 200 Ám. Acest tun ionic are un tub de drift flotant si oferã înaltã performantã de la 200 eV la 3keV
Parametrii electronici sunt sub control digital, inclusiv reglarea argonului
Rezolutie laterala de 30 Ám
Analizorul de electroni este de tip sector sferic si este dotat cu detector multicanal cu 128 de canale pentru XPS de înaltã sensibilitate
Camera foto/video permite o mãrire de pânã la 8x (zoom digital)
Aparatul este prevãzut cu auto calibrare si ajustarea automata a inaltimii probei
Transfer automat al probei din camera de intrare rapidã în camera de analizã
Control automat al vidului si gazului
Achizitie automata de date pentru scanari in linie si scanari inguste
Interpolarea si cuantificarea automata a datelor

Link cãtre pagina producãtorului:

http://www.thermo.com/com/cda/article/general/1,,20285,00.html